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基于小波变换的TFT-LCD屏Mura缺陷检测-科技创新与应用2025年08期

基于小波变换的TFT-LCD屏Mura缺陷检测

作者:靳宏 左右祥 陶素连 字体:      

摘  要:为实现对TFT-LCD Mura缺陷的自动检测,针对Mura缺陷对比度低及背景亮度不均匀的特点,提出一种基于小波变换的Mura缺陷自动识别算法。首先,通过对CCD相机采集到的Mura缺陷图像进行图像预处理。接着,基(试读)...

科技创新与应用

2025年第08期